复杂形状非接触精密测量设备 |
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下面以成功开发的A/B尺寸测量仪为例说明基于图象处理技术的精密非接触测量的原理
A/B尺寸测量仪原理与结构 |
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【摘要】A/B尺寸测量仪采用了基于亚象素的边缘检测及BLOB分析等图象处理技术,另外,为了实现精确运动及准确定位,还采用了感应同步器及浮动锥销定位装置。由于采用了这些技术,系统达到了很高的测量精度。该系统到达了国际先进水平。 关键词:亚象素测量 BLOB分析 感应同步器 浮动锥销定位 1. 系统结构整套系统的外形如图1及图2所示。测量系统安装在大理石台上,平稳牢固。立柱直径较大,刚性很好,并且立柱上有螺纹,便于摄象头聚焦。摄象头及镜头的尺寸很小,美观且不占空间。系统有两个步进电机,完成水平及垂直方向的运动。水平方向实现孔到孔及孔到边的移动;垂直方向完成图象聚焦。系统光源采用冷光源,并且使用同轴光。 |
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图1 系统外形 |
图2 工装结构 |
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整个系统的原理图如图3所示。整套系统共包括:
2. 系统特点A/B尺寸测量仪是基于视觉系统的测量仪器,因此图象处理是整套系统能否实现高精度测量的关键。另外,由于测量中涉及到X-Y台的移动及HGA的定位问题,所以运动精度和装夹定位也是考虑的重点。 2.1. 图象处理开发这台仪器的关键是实现高精度的直线边缘及圆心检测。按照目前的图象放大倍数及图象的分辨率,一个象素大概相当于4μm,不能满足我们的精度要求。 2.2. 误差补偿&控制由于整个测量工作不能在一幅画面内完成,这就涉及到工件的移动。为了达到高精度的移动,运动距离的控制必须精确。运动部件由步进电机、高精度滚珠丝杠及滑块等组成。经多次测试,该结构的精度仅能达到±2.5μm,势必造成整体的测量精度下降。为了提高运动精度,可采用直线感应同步器来实现误差补偿,因为感应同步器具有以下特点: 2.3. 浮动锥销定位工装夹具是仪器设计的另外一个要点。从前面的测量原理可知,理论上测量结果与HGA的位置无关,但在实验中发现,测量结果与HGA的位置有很大关系。由于有的孔既是定位孔又是测量孔,所以这给夹具设计带来一定的难度。经多次改进,我们决定采用装配孔及腰形孔为定位孔,让出基准孔。这样作的目的是为了减小对基准孔图象质量的影响,以便用来进行测量。为了提高定位精度,采用了锥销定位方式。由于测试时,HGA要压到载高,如果采用固定锥销,势必对锥销的尺寸精度提出极高的要求,这是很难做到,基于这方面的考虑,我们采用浮动锥销定位方式来解决精度方面的矛盾。采用这种方式后,定位精度可达±0.5μm,完全满足系统的需要。 2.4. 同轴光源光线对测量的精度影响极大,如果要得到高精度的测量结果,光线方向及亮度必须固定。如果光线变亮或变暗,浮动块的边缘会向某一方向偏移,对测量精度有极大的影响;另外,如果光线的入射角度改变,可能会在浮动块的的某一边产生阴影,影响边缘的确定。基于以上的考虑,我们采用了同轴光。因为它具有很好的方向性,并且容易固定,能保证测量的一致性。 2.5. 图象聚焦理论上讲,图象焦距的微小变化不会对对圆心检测造成影响,但实际上其影响不仅仅是图象的模糊,而且会造成图象的偏移,从而影响测量精度。如图4所示,由于安装时摄象头与工装不可能完全垂直,所以当工装在其轴线方向移动时,如图4中虚线所示,其轴线与摄象头的轴线已经产生了偏移,从而影响了测量精度。因此要求准确聚焦。理论上讲,自动聚焦是最准确的,但由于目前这个函数还没有开发出来,所以目前只能靠步进电机走定长,这往往会产生系统误差。
2.6.系统调校对于一个测量系统来说,系统调校是一件十分关键的事。如果不能进行系统调校或不能进行准确的调校,该测量系统是不能使用的。摄象头的焦距、软件系统误差补偿参数的变动、光线的变化、导轨与工装的平行度,图象二值化时阈值的选取等都会引起系统误差,因此必须有一个基准来测量系统误差并在软件只给予补偿。测量系统误差通过标准块进行测量,并定期测量调校。 2.7. 软件功能上位机软件除完成图象处理、上位机控制的功能外,还提供了数据库的功能。将数据库引入到A/B尺寸测量仪中,实现了数据本地处理、与远程服务器连接的功能,并且数据很容易转到EXCEL等软件中做进一步的处理。 2.8.系统精度由于采用了以上三项技术,整套系统的误差大大降低。按照极端的算法,将三部分误差相加,可得出整套系统的精度:±1.1μm,测量精度明显高于其他的测量方法。事实上,由于各项误差符合一定的分布规律(一般为正态分布),所以实际误差还要小。 3. R&R试验及数据分析为了对比A/B尺寸测量仪与其它两种方法的测量精度,我们用同一组HGA,共20个(上、下头各10个)HGA进行了对比试验,试验是由3位操作员在同一天用3种仪器测量。R&R试验是一种评估系统测量的试验,R&R试验要求3位操作员各自独立地对同一组物料进行测量。整个试验严格按照R&R试验要求进行,以下是用A/B尺寸自动测量仪测得A尺寸的结果,如表1所示。在表1下面给出了平均值等计算出来的参数。最后可计算出来R&R=9.22%。表2是B尺寸的测量数据,可算出R&R=5.42%。工具显微镜及头偏测试仪的测量数据,限于篇幅,在这里没有列出,其结果见表3。 表1(略);表2(略)。 从上面的数据可看出,A/B尺寸自动测量仪的测量结果比其它两种方法要好得多,达到了预期的目的。同时,A/B尺寸自动测量仪测量的A尺寸的要比B尺寸的差。这主要是由以下几个方面造成的: 表3 A/B尺寸数据(单位:%) |
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| A/B尺寸自动测量仪 | 工具显微镜 | 头偏测试仪 | |
| A尺寸 | 9.22 | 19.54 | 14.32 |
| B尺寸 | 5.42 | 17.62 | 15.67 |
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另外,系统的循环测试时间为30秒钟,而相应的工具显微镜及头偏测试仪要1分多钟,在测试速度上有明显的优势。 4. 结论由于本仪器采用了视觉系统、感应同步器、浮动锥销定位等技术,其测量精度完全达到了设计要求。该仪器具有世界领先水平。目前,已有3台不同的A/B尺寸测量仪用在生产线上。 |
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